Properties of Neon, Magnesium, and Silicon Primary Cosmic Rays Results from the Alpha Magnetic Spectrometer

Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Barao, F.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Başeğmez-du Pree, S.; Battiston, R.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindi, V.; de Boer, W.; Bollweg, K.; Borgia, B.; Boschini, M.  J.; Bourquin, M.; Bueno, E.  F.; Burger, J.; Burger, W.  J.; Burmeister, S.; Cai, X.  D.; Capell, M.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cervelli, F.; Chang, Y.  H.; Chen, G.  M.; Chen, H.  S.; Chen, Y.; Cheng, L.; Chou, H.  Y.; Chouridou, S.; Choutko, V.; Chung, C.  H.; Clark, C.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Cui, Z.; Dadzie, K.; Dai, Y.  M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M.  B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Felice, V.; Díaz, C.; Dimiccoli, F.; von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; Egorov, A.; Eline, A.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Freeman, C.; Galaktionov, Y.; Gámez, C.; García-López, R.  J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Giovacchini, F.; Gómez-Coral, D.  M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guo, K.  H.; Haino, S.; Han, K.  C.; Hashmani, R.  K.; Z.  H., He; Heber, B.; Hsieh, T.  H.; J.  Y., Hu; Huang, Z.  C.; Incagli, M.; Jang, W.  Y.; Jia, Yi; Jinchi, H.; Kanishev, K.; Khiali, B.; Kim, G.  N.; Kirn, Th.; Konyushikhin, M.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kuhlman, A.; Kulemzin, A.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H.  T.; Lee, S.  C.; J.  Q., Li; Li, M.; Li, Q.; Li, S.; T.  X., Li; Z.  H., Li; Light, C.; Lin, C.  H.; Lippert, T.; Liu, Z.; S.  Q., Lu; Y.  S., Lu; Luebelsmeyer, K.; Luo, J.  Z.; Lyu, S.  S.; Machate, F.; Mañá, C.; Marín, J.; Marquardt, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; D.  C., Mo; Molero, M.; Mott, P.; Mussolin, L.; J.  Q., Ni; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palermo, M.; Palmonari, F.; Paniccia, M.; Pashnin, A.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Phan, H.  D.; Piandani, R.; Plyaskin, V.; Poluianov, S.; X.  M., Qi; Qin, X.; Z.  Y., Qu; Quadrani, L.; Rancoita, P.  G.; Rapin, D.; Reina Conde, A.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Schael, S.; Schmidt, S.  M.; Schulz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E.  S.; Shan, B.  S.; Shi, J.  Y.; Siedenburg, T.; Solano, C.; Sonnabend, R.; Song, J.  W.; Sun, Q.; Sun, Z.  T.; Tacconi, M.; Tang, X.  W.; Tang, Z.  C.; Tian, J.; Ting, Samuel C.  C.; Ting, S.  M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Tüysüz, C.; Urban, T.; Usoskin, I.; Vagelli, V.; Vainio, R.; Valente, E.; Valtonen, E.; Vázquez Acosta, M.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J.  P.; Wallmann, C.; Wang, L.  Q.; Wang, N.  H.; Wang, Q.  L.; Wang, S.; Wang, X.; Wang, Z.  X.; Wei, J.; Weng, Z.  L.; Wu, H.; Xiong, R.  Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, Y.; Yi, H.; Y.  J., Yu; Z.  Q., Yu; Zannoni, M.; Zhang, C.; Zhang, F.; Zhang, F.  Z.; Zhang, J.  H.; Zhang, Z.; Zhao, F.; Zheng, Z.  M.; Zhuang, H.  L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.

doi:10.1103/PhysRevLett.124.211102

We report the observation of new properties of primary cosmic rays, neon (Ne), magnesium (Mg), and silicon (Si), measured in the rigidity range 2.15 GV to 3.0 TV with 1.8 × 106 Ne, 2.2 × 106 Mg, and 1.6 × 106 Si nuclei collected by the Alpha Magnetic Spectrometer experiment on the International Space Station. The Ne and Mg spectra have identical rigidity dependence above 3.65 GV. The three spectra have identical rigidity dependence above 86.5 GV, deviate from a single power law above 200 GV, and harden in an identical way. Unexpectedly, above 86.5 GV the rigidity dependence of primary cosmic rays Ne, Mg, and Si spectra is different from the rigidity dependence of primary cosmic rays He, C, and O. This shows that the Ne, Mg, and Si and He, C, and O are two different classes of primary cosmic rays.

Properties of Neon, Magnesium, and Silicon Primary Cosmic Rays Results from the Alpha Magnetic Spectrometer / Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Barao, F.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Başeğmez-du Pree, S.; Battiston, R.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindi, V.; de Boer, W.; Bollweg, K.; Borgia, B.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Bueno, E. F.; Burger, J.; Burger, W. J.; Burmeister, S.; Cai, X. D.; Capell, M.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cervelli, F.; Chang, Y. H.; Chen, G. M.; Chen, H. S.; Chen, Y.; Cheng, L.; Chou, H. Y.; Chouridou, S.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Cui, Z.; Dadzie, K.; Dai, Y. M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Felice, V.; Díaz, C.; Dimiccoli, F.; von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; Egorov, A.; Eline, A.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Freeman, C.; Galaktionov, Y.; Gámez, C.; García-López, R. J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Giovacchini, F.; Gómez-Coral, D. M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guo, K. H.; Haino, S.; Han, K. C.; Hashmani, R. K.; He, Z. H.; Heber, B.; Hsieh, T. H.; Hu, J. Y.; Huang, Z. C.; Incagli, M.; Jang, W. Y.; Jia, Yi; Jinchi, H.; Kanishev, K.; Khiali, B.; Kim, G. N.; Kirn, Th.; Konyushikhin, M.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kuhlman, A.; Kulemzin, A.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H. T.; Lee, S. C.; Li, J. Q.; Li, M.; Li, Q.; Li, S.; Li, T. X.; Li, Z. H.; Light, C.; Lin, C. H.; Lippert, T.; Liu, Z.; Lu, S. Q.; Lu, Y. S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, J. Z.; Lyu, S. S.; Machate, F.; Mañá, C.; Marín, J.; Marquardt, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D. C.; Molero, M.; Mott, P.; Mussolin, L.; Ni, J. Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palermo, M.; Palmonari, F.; Paniccia, M.; Pashnin, A.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Phan, H. D.; Piandani, R.; Plyaskin, V.; Poluianov, S.; Qi, X. M.; Qin, X.; Qu, Z. Y.; Quadrani, L.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Reina Conde, A.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Schael, S.; Schmidt, S. M.; Schulz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shan, B. S.; Shi, J. Y.; Siedenburg, T.; Solano, C.; Sonnabend, R.; Song, J. W.; Sun, Q.; Sun, Z. T.; Tacconi, M.; Tang, X. W.; Tang, Z. C.; Tian, J.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Tüysüz, C.; Urban, T.; Usoskin, I.; Vagelli, V.; Vainio, R.; Valente, E.; Valtonen, E.; Vázquez Acosta, M.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J. P.; Wallmann, C.; Wang, L. Q.; Wang, N. H.; Wang, Q. L.; Wang, S.; Wang, X.; Wang, Z. X.; Wei, J.; Weng, Z. L.; Wu, H.; Xiong, R. Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, Y.; Yi, H.; Yu, Y. J.; Yu, Z. Q.; Zannoni, M.; Zhang, C.; Zhang, F.; Zhang, F. Z.; Zhang, J. H.; Zhang, Z.; Zhao, F.; Zheng, Z. M.; Zhuang, H. L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - ELETTRONICO. - 124:21(2020). [10.1103/PhysRevLett.124.211102]