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A pixelated x-ray detector for diffraction imaging at next-generation high-rate FEL sources / Lodola, L.; Ratti, L.; Comotti, D.; Fabris, L.; Grassi, M.; Malcovati, P.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Vacchi, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Forti, F.; Casarosa, G.; Morsani, F.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Benkechkache, M. A.; Dalla Betta, G. -F.; Mendicino, R.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Xu, H.. - ELETTRONICO. - 10392:(2017), p. 12. (Intervento presentato al convegno Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XIX 2017 tenutosi a usa nel 2017) [10.1117/12.2276966].
A pixelated x-ray detector for diffraction imaging at next-generation high-rate FEL sources
Lodola, L.;Ratti, L.;Comotti, D.;Fabris, L.;Grassi, M.;Malcovati, P.;Manghisoni, M.;Re, V.;Traversi, G.;Vacchi, C.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Forti, F.;Casarosa, G.;Morsani, F.;Paladino, A.;Paoloni, E.;Rizzo, G.;Benkechkache, M. A.;Dalla Betta, G. -F.;Mendicino, R.;Pancheri, L.;Verzellesi, G.;Xu, H.
Lodola, L.; Ratti, L.; Comotti, D.; Fabris, L.; Grassi, M.; Malcovati, P.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Vacchi, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Forti, F.; Casarosa, G.; Morsani, F.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Benkechkache, M. A.; Dalla Betta, G. -F.; Mendicino, R.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Xu, H.
A pixelated x-ray detector for diffraction imaging at next-generation high-rate FEL sources / Lodola, L.; Ratti, L.; Comotti, D.; Fabris, L.; Grassi, M.; Malcovati, P.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Vacchi, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Forti, F.; Casarosa, G.; Morsani, F.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Benkechkache, M. A.; Dalla Betta, G. -F.; Mendicino, R.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Xu, H.. - ELETTRONICO. - 10392:(2017), p. 12. (Intervento presentato al convegno Hard X-Ray, Gamma-Ray, and Neutron Detector Physics XIX 2017 tenutosi a usa nel 2017) [10.1117/12.2276966].
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/230515
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
