Gate-length dependence of bulk generation lifetime and surface generation velocity measurements in high-resistivity silicon using gated diodes

Dalla Betta, Gian Franco;Verzellesi, Giovanni;Pignatel, Giorgio Umberto;Soncini, Giovanni
2000-01-01

2000
IEEE Cat.No. 00CH37095 - ISBN 0-7803-6275-6
Dalla Betta, Gian Franco; Verzellesi, Giovanni; M., Boscardin; Pignatel, Giorgio Umberto; L., Bosisio; Soncini, Giovanni
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