A measurement of the cosmic ray positron fraction e+ / (e+ + e-) in the energy range of 1-30 GeV is presented. The measurement is based on data taken by the AMS-01 experiment during its 10 day Space Shuttle flight in June 1998. A proton background suppression on the order of 106 is reached by identifying converted bremsstrahlung photons emitted from positrons. © 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.

Cosmic-ray positron fraction measurement from 1 to 30 GeV with AMS-01 / Aguilar, M.; Alcaraz, J.; Allaby, J.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Ao, L.; Arefiev, A.; Azzarello, P.; Baldini, L.; Basile, M.; Barancourt, D.; Barao, F.; Barbier, G.; Barreira, G.; Battiston, R.; Becker, R.; Becker, U.; Bellagamba, L.; Bã©nã©, P.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Biland, A.; Blasko, S.; Boella, G.; Boschini, M.; Bourquin, M.; Brocco, L.; Bruni, G.; Buã©nerd, M.; Burger, J. D.; Burger, W. J.; Cai, X. D.; Camps, C.; Cannarsa, P.; Capell, M.; Cardano, F.; Casadei, D.; Casaus, J.; Castellini, G.; Chang, Y. H.; Chen, H. F.; Chen, H. S.; Chen, Z. G.; Chernoplekov, N. A.; Chiueh, T. H.; Cho, K.; Choi, M. J.; Choi, Y. Y.; Cindolo, F.; Commichau, V.; Contin, A.; Cortina-Gil, E.; Cristinziani, M.; Dai, T. S.; Delgado, C.; Difalco, S.; Djambazov, L.; D'Antone, I.; Dong, Z. R.; Emonet, P.; Engelberg, J.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Esposito, G.; Extermann, P.; Favier, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P. H.; Flã¼gge, G.; Fouque, N.; Galaktionov, Yu.; Gast, H.; Gervasi, M.; Giusti, P.; Grandi, D.; Grimm, O.; Gu, W. Q.; Hangarter, K.; Hasan, A.; Hermel, V.; Hofer, H.; Hungerford, W.; Jongmanns, M.; Karlamaa, K.; Karpinski, W.; Kenney, G.; Kim, D. H.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kim, M. Y.; Klimentov, A.; Kossakowski, R.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kraeber, M.; Laborie, G.; Laitinen, T.; Lamanna, G.; Lanciotti, E.; Laurenti, G.; Lebedev, A.; Lechanoine-Leluc, C.; Lee, M. W.; Lee, S. C.; Levi, G.; Liu, C. L.; Liu, H. T.; Lu, G.; Lu, Y. S.; Lã¼belsmeyer, K.; Luckey, D.; Lustermann, W.; Maã±a, C.; Margotti, A.; Mayet, F.; Mcneil, R. R.; Meillon, B.; Menichelli, M.; Mihul, A.; Mujunen, A.; Oliva, A.; Olzem, J.; Palmonari, F.; Park, H. B.; Park, W. H.; Pauluzzi, M.; Pauss, F.; Perrin, E.; Pesci, A.; Pevsner, A.; Pilo, F.; Pimenta, M.; Plyaskin, V.; Pojidaev, V.; Pohl, M.; Produit, N.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Raupach, F.; Ren, D.; Ren, Z.; Ribordy, M.; Richeux, J. P.; Riihonen, E.; Ritakari, J.; Ro, S.; Roeser, U.; Rossin, C.; Sagdeev, R.; Santos, D.; Sartorelli, G.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schultz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shin, J. W.; Shoumilov, E.; Shoutko, V.; Siedenburg, T.; Siedling, R.; Son, D.; Song, T.; Spinella, F.; Steuer, M.; Sun, G. S.; Suter, H.; Tang, X. W.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tornikoski, M.; Torsti, J.; Trã¼mper, J.; Ulbricht, J.; Urpo, S.; Valtonen, E.; Vandenhirtz, J.; Velikhov, E.; Verlaat, B.; Vetlitsky, I.; Vezzu, F.; Vialle, J. P.; Viertel, G.; Vitã©, D.; Von Gunten, H.; Waldmeier Wicki, S.; Wallraff, W.; Wang, B. C.; Wang, J. Z.; Wiik, K.; Williams, C.; Wu, S. X.; Xia, P. C.; Xu, S.; Yan, J. L.; Yan, L. G.; Yang, C. G.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, S. W.; Xu, Z. Z.; Zhang, H. Y.; Zhang, Z. P.; Zhao, D. X.; Zhou, Y.; Zhu, G. Y.; Zhu, W. Z.; Zhuang, H. L.; Zichichi, A.; Zimmermann, B.; Zuccon, P.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 646:4(2007), pp. 145-154. [10.1016/j.physletb.2007.01.024]

Cosmic-ray positron fraction measurement from 1 to 30 GeV with AMS-01

Battiston, R.;Burger, W. J.;Zuccon, P.
2007-01-01

Abstract

A measurement of the cosmic ray positron fraction e+ / (e+ + e-) in the energy range of 1-30 GeV is presented. The measurement is based on data taken by the AMS-01 experiment during its 10 day Space Shuttle flight in June 1998. A proton background suppression on the order of 106 is reached by identifying converted bremsstrahlung photons emitted from positrons. © 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.
2007
4
Aguilar, M.; Alcaraz, J.; Allaby, J.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Ao, L.; Arefiev, A.; Azzarello, P.; Baldini, L.; Basile, M.; Barancourt, D.; Barao, F.; Barbier, G.; Barreira, G.; Battiston, R.; Becker, R.; Becker, U.; Bellagamba, L.; Bã©nã©, P.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Biland, A.; Blasko, S.; Boella, G.; Boschini, M.; Bourquin, M.; Brocco, L.; Bruni, G.; Buã©nerd, M.; Burger, J. D.; Burger, W. J.; Cai, X. D.; Camps, C.; Cannarsa, P.; Capell, M.; Cardano, F.; Casadei, D.; Casaus, J.; Castellini, G.; Chang, Y. H.; Chen, H. F.; Chen, H. S.; Chen, Z. G.; Chernoplekov, N. A.; Chiueh, T. H.; Cho, K.; Choi, M. J.; Choi, Y. Y.; Cindolo, F.; Commichau, V.; Contin, A.; Cortina-Gil, E.; Cristinziani, M.; Dai, T. S.; Delgado, C.; Difalco, S.; Djambazov, L.; D'Antone, I.; Dong, Z. R.; Emonet, P.; Engelberg, J.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Esposito, G.; Extermann, P.; Favier, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P. H.; Flã¼gge, G.; Fouque, N.; Galaktionov, Yu.; Gast, H.; Gervasi, M.; Giusti, P.; Grandi, D.; Grimm, O.; Gu, W. Q.; Hangarter, K.; Hasan, A.; Hermel, V.; Hofer, H.; Hungerford, W.; Jongmanns, M.; Karlamaa, K.; Karpinski, W.; Kenney, G.; Kim, D. H.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kim, M. Y.; Klimentov, A.; Kossakowski, R.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kraeber, M.; Laborie, G.; Laitinen, T.; Lamanna, G.; Lanciotti, E.; Laurenti, G.; Lebedev, A.; Lechanoine-Leluc, C.; Lee, M. W.; Lee, S. C.; Levi, G.; Liu, C. L.; Liu, H. T.; Lu, G.; Lu, Y. S.; Lã¼belsmeyer, K.; Luckey, D.; Lustermann, W.; Maã±a, C.; Margotti, A.; Mayet, F.; Mcneil, R. R.; Meillon, B.; Menichelli, M.; Mihul, A.; Mujunen, A.; Oliva, A.; Olzem, J.; Palmonari, F.; Park, H. B.; Park, W. H.; Pauluzzi, M.; Pauss, F.; Perrin, E.; Pesci, A.; Pevsner, A.; Pilo, F.; Pimenta, M.; Plyaskin, V.; Pojidaev, V.; Pohl, M.; Produit, N.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Raupach, F.; Ren, D.; Ren, Z.; Ribordy, M.; Richeux, J. P.; Riihonen, E.; Ritakari, J.; Ro, S.; Roeser, U.; Rossin, C.; Sagdeev, R.; Santos, D.; Sartorelli, G.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schultz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shin, J. W.; Shoumilov, E.; Shoutko, V.; Siedenburg, T.; Siedling, R.; Son, D.; Song, T.; Spinella, F.; Steuer, M.; Sun, G. S.; Suter, H.; Tang, X. W.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tornikoski, M.; Torsti, J.; Trã¼mper, J.; Ulbricht, J.; Urpo, S.; Valtonen, E.; Vandenhirtz, J.; Velikhov, E.; Verlaat, B.; Vetlitsky, I.; Vezzu, F.; Vialle, J. P.; Viertel, G.; Vitã©, D.; Von Gunten, H.; Waldmeier Wicki, S.; Wallraff, W.; Wang, B. C.; Wang, J. Z.; Wiik, K.; Williams, C.; Wu, S. X.; Xia, P. C.; Xu, S.; Yan, J. L.; Yan, L. G.; Yang, C. G.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, S. W.; Xu, Z. Z.; Zhang, H. Y.; Zhang, Z. P.; Zhao, D. X.; Zhou, Y.; Zhu, G. Y.; Zhu, W. Z.; Zhuang, H. L.; Zichichi, A.; Zimmermann, B.; Zuccon, P.
Cosmic-ray positron fraction measurement from 1 to 30 GeV with AMS-01 / Aguilar, M.; Alcaraz, J.; Allaby, J.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Anderhub, H.; Ao, L.; Arefiev, A.; Azzarello, P.; Baldini, L.; Basile, M.; Barancourt, D.; Barao, F.; Barbier, G.; Barreira, G.; Battiston, R.; Becker, R.; Becker, U.; Bellagamba, L.; Bã©nã©, P.; Berdugo, J.; Berges, P.; Bertucci, B.; Biland, A.; Blasko, S.; Boella, G.; Boschini, M.; Bourquin, M.; Brocco, L.; Bruni, G.; Buã©nerd, M.; Burger, J. D.; Burger, W. J.; Cai, X. D.; Camps, C.; Cannarsa, P.; Capell, M.; Cardano, F.; Casadei, D.; Casaus, J.; Castellini, G.; Chang, Y. H.; Chen, H. F.; Chen, H. S.; Chen, Z. G.; Chernoplekov, N. A.; Chiueh, T. H.; Cho, K.; Choi, M. J.; Choi, Y. Y.; Cindolo, F.; Commichau, V.; Contin, A.; Cortina-Gil, E.; Cristinziani, M.; Dai, T. S.; Delgado, C.; Difalco, S.; Djambazov, L.; D'Antone, I.; Dong, Z. R.; Emonet, P.; Engelberg, J.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Esposito, G.; Extermann, P.; Favier, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P. H.; Flã¼gge, G.; Fouque, N.; Galaktionov, Yu.; Gast, H.; Gervasi, M.; Giusti, P.; Grandi, D.; Grimm, O.; Gu, W. Q.; Hangarter, K.; Hasan, A.; Hermel, V.; Hofer, H.; Hungerford, W.; Jongmanns, M.; Karlamaa, K.; Karpinski, W.; Kenney, G.; Kim, D. H.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kim, M. Y.; Klimentov, A.; Kossakowski, R.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kraeber, M.; Laborie, G.; Laitinen, T.; Lamanna, G.; Lanciotti, E.; Laurenti, G.; Lebedev, A.; Lechanoine-Leluc, C.; Lee, M. W.; Lee, S. C.; Levi, G.; Liu, C. L.; Liu, H. T.; Lu, G.; Lu, Y. S.; Lã¼belsmeyer, K.; Luckey, D.; Lustermann, W.; Maã±a, C.; Margotti, A.; Mayet, F.; Mcneil, R. R.; Meillon, B.; Menichelli, M.; Mihul, A.; Mujunen, A.; Oliva, A.; Olzem, J.; Palmonari, F.; Park, H. B.; Park, W. H.; Pauluzzi, M.; Pauss, F.; Perrin, E.; Pesci, A.; Pevsner, A.; Pilo, F.; Pimenta, M.; Plyaskin, V.; Pojidaev, V.; Pohl, M.; Produit, N.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Raupach, F.; Ren, D.; Ren, Z.; Ribordy, M.; Richeux, J. P.; Riihonen, E.; Ritakari, J.; Ro, S.; Roeser, U.; Rossin, C.; Sagdeev, R.; Santos, D.; Sartorelli, G.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schultz von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shin, J. W.; Shoumilov, E.; Shoutko, V.; Siedenburg, T.; Siedling, R.; Son, D.; Song, T.; Spinella, F.; Steuer, M.; Sun, G. S.; Suter, H.; Tang, X. W.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tornikoski, M.; Torsti, J.; Trã¼mper, J.; Ulbricht, J.; Urpo, S.; Valtonen, E.; Vandenhirtz, J.; Velikhov, E.; Verlaat, B.; Vetlitsky, I.; Vezzu, F.; Vialle, J. P.; Viertel, G.; Vitã©, D.; Von Gunten, H.; Waldmeier Wicki, S.; Wallraff, W.; Wang, B. C.; Wang, J. Z.; Wiik, K.; Williams, C.; Wu, S. X.; Xia, P. C.; Xu, S.; Yan, J. L.; Yan, L. G.; Yang, C. G.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, S. W.; Xu, Z. Z.; Zhang, H. Y.; Zhang, Z. P.; Zhao, D. X.; Zhou, Y.; Zhu, G. Y.; Zhu, W. Z.; Zhuang, H. L.; Zichichi, A.; Zimmermann, B.; Zuccon, P.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 646:4(2007), pp. 145-154. [10.1016/j.physletb.2007.01.024]
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
2007_AMS01-positrons.pdf

Solo gestori archivio

Tipologia: Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza: Tutti i diritti riservati (All rights reserved)
Dimensione 679.16 kB
Formato Adobe PDF
679.16 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri
1-s2.0-S0370269307001104-main.pdf

accesso aperto

Tipologia: Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza: Creative commons
Dimensione 743.35 kB
Formato Adobe PDF
743.35 kB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/195491
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 322
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 289
social impact