Analytical approach of the impact of Through Silicon Via on the performance of MOS devices

Dalla Betta, Gian Franco
2014-01-01

2014
Proceedings of 9th International Design and Test Symposium
Piscataway, NJ, USA
IEEE
978-1-4799-8200-4
Benkechkache, Mohamed El Amine; Latreche, Saida; Dalla Betta, Gian Franco
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/149242
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact