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Avoiding surface and absorption effects in XRD quantitative phase analysis
1998-01-01 G., Elvati; Lutterotti, Luca
Quantitative Analysis of Silicate Glass in Ceramic Materials by the Rietveld Method
1998-01-01 Lutterotti, Luca; Ceccato, Riccardo; Dal Maschio, Roberto; Pagani, Enrico
Rietveld refinement using Debye-Scherrer film techniques
1996-01-01 Lutterotti, Luca; A., Gualtieri; A., Aldrighetti
Texture analysis from diffraction spectra
1994-01-01 H., Wenk; S., Matthies; Lutterotti, Luca
Titolo | Anno di pubblicazione | Autori Unitn | File |
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Avoiding surface and absorption effects in XRD quantitative phase analysis | 1-gen-1998 | Lutterotti, Luca + | |
Quantitative Analysis of Silicate Glass in Ceramic Materials by the Rietveld Method | 1-gen-1998 | Lutterotti, LucaCeccato, RiccardoDal Maschio, RobertoPagani, Enrico | |
Rietveld refinement using Debye-Scherrer film techniques | 1-gen-1996 | Lutterotti, Luca + | |
Texture analysis from diffraction spectra | 1-gen-1994 | Lutterotti, Luca + |
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