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Angle selective backscattered electron contrast in the low-voltage scanning electron microscope: Simulation and experiment for polymers
2016-01-01 Wan, Q.; Masters, R. C.; Lidzey, D.; Abrams, K. J.; Dapor, M.; Plenderleith, R. A.; Rimmer, S.; Claeyssens, F.; Rodenburg, C.
Energy selective scanning electron microscopy to reduce the effect of contamination layers on scanning electron microscope dopant mapping
2010-01-01 C., Rodenburg; M., Jepson; E., Bosch; Dapor, Maurizio
A new sample preparation protocol for SEM and TEM particulate matter analysis
2021-01-01 Sinha, Ankur; Ischia, Gloria; Straffelini, Giovanni; Gialanella, Stefano
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